輻射發(fā)射試驗：
輻射發(fā)射測試是測量EUT通過空間傳播的強輻射騷擾場。
可分為磁場輻射、電場輻射，前者針對燈具和電磁爐，后者應(yīng)用廣泛。
此外，家用電器和電動工具、AV產(chǎn)品輔助設(shè)備都需要功率輻射（稱為騷擾功率）。
1.輻射發(fā)射試驗標(biāo)準(zhǔn)：
a)電場輻射:CISPR22、CISPR13、CISPR11、CISPR14-1、CISPR15(特定類別的玩具)；
b)磁場輻射:CISPR15(工作電流頻率超過100Hz的燈具)，CISPR11(電磁爐)；
c)騷擾功率:CISPR14-1(部分工作頻率不超過9kHz的設(shè)備除外)，CISPR13(僅適用于輔助設(shè)備)。
2.輻射發(fā)射試驗方法。
（1）輻射發(fā)射測試儀器及設(shè)備：
接收器遵循CISPR16-1-1的要求，天線、場地遵循CISPR16-1-4的要求，吸收鉗遵循CISPR16-1-3的要求。
（2）輻射發(fā)射試驗布置：
電場輻射:也分為臺式和落地式，與傳導(dǎo)發(fā)射相同(因為輻射發(fā)射結(jié)果與產(chǎn)品布局的關(guān)系。特別是要嚴格按照標(biāo)準(zhǔn)布置，包括產(chǎn)品、輔助設(shè)備、所有電纜等)；
磁場輻射:不同尺寸的三環(huán)天線限制了可測試的EUT的最大尺寸。以直徑2m的環(huán)形三環(huán)天線為例，長度小于1.6m的EUT可放置在三環(huán)天線中心進行測試；在CISPR11中，直徑0.6m以上的單環(huán)遠天線在3m外測量，最低高度1m；
騷擾功率:分為臺式和落地式。臺式設(shè)備放置在0.8m的非金屬桌上，離其他金屬物體至少0.8m(通常是屏蔽室的金屬內(nèi)墻，在CISPR14-1中至少0.4m)；落地設(shè)備放置在0.1m的非金屬支撐上；被測電纜(LUT)布置在高0.8m、長6m的功率吸收鉗導(dǎo)軌上，吸收鉗套在電纜上，電流互感器端面向被測設(shè)備。如果被測設(shè)備有其他電纜，可以斷開，不影響功能，不能斷開的可以用鐵氧體吸收鉗隔離。
（3）輻射發(fā)射試驗頻段:電場輻射一般為30mHz-1gHz(有些產(chǎn)品需要測量超過1g，根據(jù)具體標(biāo)準(zhǔn))，磁場為9kHz-30mHz，騷擾功率為30-300mHz。
（4）輻射發(fā)射試驗限值:場地為3m、10m或其他尺寸，不同產(chǎn)品分類(Group1/2、Classa/B)，限值不同。
（5）輻射發(fā)射試驗過程：
30MHz-1GHz電場輻射：在半電波暗室內(nèi)進行，EUT隨轉(zhuǎn)臺360度旋轉(zhuǎn)，天線高度為1-4m。上下升降，尋找最大輻射值。結(jié)果用QP值表示。垂直、水平兩個天線極化方向均測量。
1g以上電場輻射:工作頻率超過108mHz的ITE設(shè)備，400mHz以上的ISM設(shè)備需要在3m場地進行測試，采用頻譜儀進行測試。ITE設(shè)備的測試方法與30mHz-1gHz基本相同，結(jié)果用Peak和AV值表示。ISM的產(chǎn)品有點不同，需要在全電波暗室中測量。天線與產(chǎn)品高度相同，不升降，轉(zhuǎn)盤仍旋轉(zhuǎn)尋找最大輻射值；
替代方法:用ERP(有效發(fā)射功率)替代，然后轉(zhuǎn)換成場強值。這在RF測試中經(jīng)常使用，很少用于傳統(tǒng)的EMC。替代方法測試的目的是測試EUT的外殼輻射，需要拆除所有可拆卸的電纜，并在不可拆卸的電纜上覆蓋鐵氧體磁環(huán)。首先用天線A和接收器測量EUT的最大騷擾值，然后用天線B代替EUT，調(diào)整信號發(fā)生器的輸出功率，直到測量接收器達到相同的值。記錄替代天線B的輸入功率，即EUT的外殼輻射功率。天線的選擇取決于測試頻率；
磁場輻射:三環(huán)天線的磁場輻射測試沒什么好說的。樣品放置在天線中心，X/Y/Z測量一組磁場輻射的結(jié)果。使用單環(huán)天線時，天線垂直放置在地面上，最低部分高于地面1m。因為是近場測量，考慮到地面的反射，測量值反映了EUT的水平和垂直磁場分量；
騷擾功率:所有長度超過25cm的電纜(包括輔助設(shè)備的電纜)都需要進行。因為30-300mHz中不同頻點的騷擾以波形式分布在被測電纜中。因此，在測量過程中，需要沿導(dǎo)軌拉動功率吸收鉗，以找到每個最終測量頻點的最大騷擾功率位置(大致在離設(shè)備半波長的距離)。
3.輻射發(fā)射試驗結(jié)果：
仍與限值線相比，低于PASS，高于FAIL。
4.輻射發(fā)射試驗注意事項：
測試布局仍然是測試中最需要的環(huán)節(jié)。此外，由于高頻測試、場地、設(shè)備等都是影響最終結(jié)果的重要因素。
5.輻射發(fā)射試驗范圍為30mHz-18.5gHz。
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